Discovery 氙灯闪光导热仪 DXF 200 采用获得专利的 High-Speed Xenon-pulse Delivery™ (HSXD) 源和多面变形 Light Pipe™。这些光学元件共同向样品发射能量巨大且强度均匀的光脉冲,同时又能防止对样品支架过度照射。DXF 200 配备的固态 PIN 检测器可在低温条件下实现高灵敏度测量。只有 TA 仪器的高能氙灯设计能够在 -150°C 至 200°C 的温度范围内测量直径删除/广泛为 25.4 mm 的样品。采用大尺寸样品不仅能够减少因材料不均匀而导致的误差,还能对分布不均匀的复合材料进行代表性测量。DXF 平台专为研发项目以及生产控制而设计。
DXF 200 特性
- 低温系统配备高效的液氮冷却系统和固态 PIN 检测器,可以实现准确稳定的温度控制, 低温度可达 -150°C,处于业内领先水平。
- 获得专利的高速氙灯脉冲发射系统提供的能量比同类产品设计高出 50%,可对各种各样的样品进行 准确的测量,而不受样品厚度和导热系数影响
- 获得专利的 Light Pipe™ 可以高效聚集和准直光束,并对样品进行均匀照射
- 可以对删除/广泛直径为 25.4 mm 的样品进行测试,简化了样品制备和处理过程,并且改善了非均质材料的测量结果
- 实时脉冲映射用于测量薄型和高导热率材料的热扩散系数
- 专为满足各类行业标准测试方法而设计,包括 ASTM E1461、ASTM C714、ASTM E2585、ISO 13826、ISO 22007-第 4 部分、ISO 18755、BS ENV 1159-2、DIN 30905 和 DIN EM821
激光源
类型 | 台式 |
脉冲能(可变) | 删除/广泛 25 焦耳(可变) |
脉宽 | 400 微秒至 600 微秒 |
专有传输光纤 | Light Pipe 光束导管 |
加热炉
温度范围 | -150°C 至 200°C |
气体环境 | 空气、惰性气体、删除/广泛真空压强(50 毫托) |
检测
热扩散系数范围 | 0.01 to 1000 mm2/s |
导热系数范围 | 0.1 to 2000 W/(m*K) |
数据采集 | 16 bit |
精度
热扩散系数 | ±2.3% |
导热系数 | ±4% |
可重复性
热扩散系数 | ±2.0% |
导热系数 | ±3.5% |
样品
圆形 | 直径 8、10、12.7 和 25.4 mm |
方形 | 边长 8 和 10 mm |
删除/广泛厚度 | 10 mm |
自动进样器
类型 | 两位 |
可在低温条件下实现高灵敏度测量
可在低温条件下实现高灵敏度测量
DXF 200 采用高效的液氮冷却系统,可以在 -150°C 至 200°C 之间实现准确稳定的温度控制。只有 DXF 200 可以测试材料在 低 -150°C 温度下的热管理性能,使得该仪器成为研究低温范围的科学家的删除/优选。.
固态 PIN 检测器可增强温度检测性能
固态 PIN 检测器可增强温度检测性能
DXF 200 具有独特的双 PIN 检测器,可以在低于室温的温度下提供优异的灵敏度和响应时间。PIN 检测器直接与样品接触,在 -150°C 下测得的信号强度通常是传统红外检测器在 低可检测温度(通常为 25°C)下的信号强度的五倍。与 MCT IR 检测器不同,该检测器在室温或低于室温条件下运行时无需进行信号放大处理。因此可以得到拥有更高信噪比、更准确的比热容和导热系数测量数据的热谱图,以及让测试后分析更加轻松的可靠数据组.
获得专利的 High Speed Xenon-Pulse Delivery™ (HSXD) 源
获得专利的 High Speed Xenon-Pulse Delivery™ (HSXD) 源
DXF 200 采用专有的 High Speed Xenon-Pulse Delivery™ (HSXD) 源HSXD 可提供 15 焦耳的能量,所产生的闪光是市面上所有氙灯系统中能量删除/广泛且分布 均匀的闪光。
实时脉冲映射系统会考虑有限脉宽效应和热损失,在测量较薄的高导热材料时,这两项对于数据的准确性至关重要.
删除/广泛样品直径达 25.4 mm,便于样品处理
删除/广泛样品直径达 25.4 mm,便于样品处理
没有任何其他供应商的产品可以在如此广泛的温度范围内测量直径达 25.4 mm 的样品。较大的样品更容易制备和处理,确保测得数据更具代表性和可重复性,同时还能改善复合材料或分散不均匀的材料的测量结果.
可在 低温度下达到 高信噪比
可在 低温度下达到 高信噪比
航空航天和国防工业对新型高性能材料的需求日益增长,促使对测量温度范围更低、数据质量更佳的闪光导热仪的需求也不断增强。业内领先的固态双 PIN 检测器可以在 -150˚C 低温下获得高质量的数据.
右上方的图片显示了 DXF 200 在低温环境下信噪比 (SNR) 的质量。即使在 -150°C 温度下,固态 PIN 检测器直接测得的信号强度也是传统红外检测器在室温下测得信号强度的近五倍.
The Proven Software Platform for Easy, Accurate Flash Analysis Data
All Discovery Light Flash instruments include FlashLine™ software for Instrument Control and Data Analysis. The Microsoft Windows based software features an intuitive tablebased format for simple programming of experimental parameters in the instrument control interface. Real-time monitoring allows for immediate assessment of the data quality and instrument performance during each test. The Data Analysis module’s automated routines provide users with advanced analysis tools, including models for heat loss correction in both conduction and radiation.
Integrated with the pulse-shape mapping measuring system, FlashLine determines the exact shape of the laser pulse versus time to make pulse shape and width correction. It also identifies the flash zero origin and enables finite pulse effect correction which is critical to guarantee accurate measurements for thin samples and high-diffusivity materials. Additionally, the TA Instrument developed “Goodness of Fit” evaluation tool allows the user to select the best results calculated by different Thermal Diffusivity models.
Software Features:
- Unlimited temperature segments with user-defined heat ramp steps
- User-selectable laser energy for each sample by temperature segment
- Data analysis of any already-completed segment during testing
- Determination of the specific heat by comparative method
- Option for automatic multiple-shots selection and averaging
- Correction for radiation component of transparent and translucent samples
- Automatic optimization of flash energy level
- Option for sample skip, and precision criterion
- Fast zoom function for X and Y segments
- Thermal diffusivity, specific heat, and thermal conductivity tables and graphs as a function of temperature
- Calculations of all models during testing and available by the completion of testing
Standard models include:
- Gembarovic for multi-dimensional heat loss correction and non-linear regression
- Goodness of Fit for the best model result selection
- Pulse gravity center to determine t0
- Pulse length and shape correction
- Two and three layers analysis
- In-plane
- Main models: Clark and Taylor, Cowan, Degiovanni, Koski, Least Squares, Logarithmic, Moment, Heckman, Azumi, and Parker